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中国、EUVなしで先端チップ製造。ただしコストは膨らみ続ける
Tom's Hardware によると、中国は EUV(極端紫外線)露光装置を使わずに先端チップを製造できるものの、そのコストは膨らみ続けている。記事の URL によれば、DUV(深紫外線)露光での多重パターニングにより、チップの面積が大きくなり、歩留まりが下がり、製造期間も長くなるという。具体的な製造プロセスや企業名、コストの数値は見出しからは分からない。輸出規制下での製造の限界を示す分析とみられる。

Tom's Hardware は、中国が EUV 露光装置なしでも先端チップを製造できる一方で、そのコストが膨らみ続けていると報じた。記事の URL には、DUV による多重パターニングがダイの大型化、歩留まりの低下、製造期間の長期化を招くという趣旨が示されている。
入手できているのは見出しと URL のみで、対象となるプロセスの世代、製造している企業、具体的なコストや歩留まりの数値は確認できていない。
半導体の微細な回路は、光を使って回路パターンをウエハーに焼き付ける露光工程で作られる。最先端の微細化には波長の短い EUV が使われるが、中国は輸出規制によって EUV 装置を入手しにくい状況にあるとされる。そこで波長の長い DUV で露光を何度も繰り返す多重パターニングにより、細かいパターンを作り出している。
この方法は工程数が増えるため、製造に時間がかかり、工程ごとの誤差が重なって歩留まりが下がりやすい。記事の指摘どおりダイも大きくなるなら、1 枚のウエハーから取れるチップの数が減る。技術的には作れても、量と価格で競争力を保てるかが問題になるとみられる。
出典 — Tom's Hardware
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